1. JTAG (Joint Test Action Group)
ㅇ 1990년 IEEE Std. 1149.1로 표준화된 바운드리스캔 규격
- 바운드리스캔 (Boundary-Scan) : IC 내부 관찰 및 디버깅
ㅇ PCB 내 전자 부품 등에 대한 디버깅, 테스트, 프로그래밍을 위한 표준화된 인터페이스
- 특히, 회로 테스트 및 프로그래밍을 지원하는 표준 인터페이스로 자리 잡음
2. JTAG 주요 용도
ㅇ 디버깅 및 테스트 : IC 칩 내부 상태를 모니터링하고 제어할 수 있는 기능 제공
- 보드 레벨에서 회로가 정상적으로 동작하는지 확인하는 데 사용
ㅇ 프로그래밍 : FPGA,마이크로컨트롤러 같은 프로그래머블 칩을 직접 프로그래밍 가능
- 例) 빌드된 프로그램을 MCU 등에 주입하는 등
ㅇ 회로 테스트 : 연결된 모든 장치들을 체인으로 묶어,
- 고장이나 연결 오류를 탐지할 수 있는 Boundary-Scan 테스트 제공
3. JTAG 인터페이스 (신호선 4개)
ㅇ TDI(Test Data In), TDO(Test Data Out), TCK(Test Clock), TMS(Test Mode Select)
ㅇ 例) FT2232D 칩 : FTDI(FTDI Chip)社의 듀얼 USB to serial/FIFO 컨버터 칩
- 특히, USB를 통해 두 개의 독립적인 직렬 인터페이스를 제공 가능
. (例 : JTAG 버스용 및 콘솔 화면 작동용 듀얼 지원)
- JTAG, SPI, I2C, UART 등의 통신 프로토콜을 구현하는 데 유용
- (유사 칩)
. FT232R : 단일 UART 채널 (가장 일반적인 USB - Serial 컨버터)
. FT2232H : FT2232D의 고속 버전 (USB High-Speed, 480 Mbps 지원)
. FT4232H : 쿼드(4채널) USB to UART/FIFO 인터페이스
. FT232H : 단일 채널이지만 고속, 다양한 모드 지원